LTE4G测试卡

LTE测试卡
   LTE测试卡 4G测试卡 CMW500测试白卡 LTE测试白卡是一款可擦写、可封装Min-SIM、Micro-SIM、Nano-SIM尺寸的空白测试卡，广泛应用于手机测试与综合仪器测试，只要用户有签权数据即可对LTE 4G测试空白卡进行读、写测试操作！



   LTE 4G测试空白卡支持4G网络标准的USIM卡，可用于核心网基站测试，统称为4G核心网基站**测试卡|4G测试白卡，为4G主要的综合测试仪器使用的测试卡，它为4G网络提供了一个优良的测试环境。LTE测试白卡不仅从性能和使用寿命上做了很大的改进，还添加了多功能网络的测试，满足了一卡多机的测试，减少了频繁换卡的烦恼，从而提高了生产效率。